氟碳漆同粒度分析技术都受其测量原理限制，如光衍射法不能测量小于光源自然线宽的茕粒；沉降法既受制于大尺寸端乱流的影响，也受小尺寸端扩散（布朗运动）的限制。测量仪 器因制作和操作规程也会带来一定限制，如激光衍射仪检测器受粒级对数坐标的限制，造成最终粒级仅为全程一半；沉降法操作规定了对介质密度、黏度和符合雷诺准数的要求。有时测量技术还对测量样品的准备提出限制，如PCS测量必须颗粒悬浮；电镜制样要求优良分散。了解测量技术局限性和严格满足其限制要求，对获取正确的测量结果非常必要。
显微镜是测定粒径最直接的方法。如果氟碳漆分辨率合适，显微镜法的最大优点是可以对粒子 的形状、催化剂形态和纹理方面的其他特点提供直接的信息。显微镜法用于定量地测定颗粒大小的主要问题，在于要确保结果对于整个催化剂样品是有代表性的，以及当颗粒具有不规则外形时如何求得满意的量度。检测几份样品并测量大量颗粒是绝对必要的。而所需的样品份数和测量的数目只能根据数据变动性的统计研究来判断。
用X射线技术主要有两种研究粒径的方法。
(1)衍射线宽化法利用被研究物质的一条或若干条衍射线的峰形中所含的有用信息进行研究分析，因此这个方法对于特定组分是专属性的。
(2)小角度散射法原则上细粉固体中的所有粒子都对散射有贡献，但实际上一个组分的散射能力是和它的化学本性有关，所以可能有某种程度的专属性。
物质的颗粒可以由不止一个晶体构成。在这种情况下，对于粒径的测定用衍射线宽化和 小角度散射会给出不同的结果。衍射线的宽度有赖于个别晶粒的大小，而小角度散射则有赖于复合粒子的大小。而且，如扭曲的晶格畸变也会造成衍射线的宽化，但这种因素对小角度散射却影响极微。当然，对于非晶态粒子，根本不产生衍射线，仍然可以用小角度散射法。
